Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Наукова періодика України - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (1)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій


Пошуковий запит: (<.>A=Неежмаков К$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 3
Представлено документи з 1 до 3
1.

Неежмаков К. П. 
Исследование процедуры калибровки растровых электронных микроскопов с использованием тест-объекта МШПС-2.0 [Електронний ресурс] / К. П. Неежмаков // Український метрологічний журнал. - 2012. - № 2. - С. 34-37. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Umlzh_2012_2_8
Попередній перегляд:   Завантажити - 360.367 Kb    Зміст випуску     Цитування
2.

Довженко Я. С. 
Экспериментальные исследования влияния геометрии индентора при измерении твердости [Електронний ресурс] / Я. С. Довженко, К. П. Неежмаков, В. В. Скляров // Український метрологічний журнал. - 2012. - № 3. - С. 43-47. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Umlzh_2012_3_9
Попередній перегляд:   Завантажити - 326.075 Kb    Зміст випуску     Цитування
3.

Неежмаков К. П. 
Перспективы развития нанометрологии в Украине с использованием растровых электронных микроскопов [Електронний ресурс] / К. П. Неежмаков // Системи обробки інформації. - 2011. - Вип. 6. - С. 181-184. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/soi_2011_6_47
Развитие микроэлектроники, микромеханики, нанотехнологий требует совершенствования методов измерения линейных размеров элементов топологии микросхем, анализа поверхностных структур, а также требует средств измерений, подтверждающих достоверность результатов измерений размеров реальных объектов и их элементного состава. Измерения линейных размеров в микронном и субмикронном диапазонах методом растровой электронной микроскопии на сегодняшний день считаются одними из наиболее точных. Следует отметить, что ведущие страны мира, занимающие ключевые позиции в микроэлектронике, вопросам внедрения метрологии в практику линейных измерений в микро- и нанометровом диапазонах уделяют первостепенное значение.
Попередній перегляд:   Завантажити - 463.348 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського